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太阳能硅片切割液分析仪器性能介绍
作者:太阳能硅片切割液 发布于:2016/03/23 15:35:08 点击量:

   太阳能硅片切割液分析仪器性能介绍

分分pk拾    随着多晶硅,硅片,大阳能电池板工艺的不断发展与提高,光伏产业对硅片质量的检测要求也越来越高。由于国外的光学检测太贵,对非原材料生产厂家是一笔很大的支出,而又需要对进的硅片进行检测,针对这种情况,我们开发了针对太阳能硅片的检测系统。该系统可以对太阳能电池硅片的”金字塔”的微观形貌分布情况,及硅片绒面的缺陷分析.例如:硅片检测显微镜可以观察到肉眼难观测的位错、划痕、崩边等;还可以对硅片的杂质、残留物成分分析.杂质包括:颗粒、有机杂质、无机杂质、金属离子、硅粉粉尘等,造成磨片后的硅片易发生变花、发蓝、发黑等现象,使磨片不合格.是太阳能电池硅片生产过程中必不可少的检测仪器之一。上海测维生产的LW300MT硅芯片检查显微镜是适用于对太阳能电池硅片的显微观察。本仪器配有大移动范围的载物台、落射照明器、长工作距离的平场消色差物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,及其高像素的数码摄像头.本仪器配有暗场物镜,使观察硅片时图像更加清晰,是检测太阳能电池硅片的”金字塔”的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析的理想仪器.





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